Exact Covers and Pattern Matching with Mismatches (Dokładne szablony i wyszukiwanie wzorca z dozwolonymi niedopasowaniami)
Sala:
2180 (możliwość zdalnego uczestnictwa)
Recenzenci:
dr hab. Artur Jeż (Uniwersytet Wrocławski), prof. Thierry Lecroq (University of Rouen Normandy, Francja), prof. Amihood Amir (Bar-Ilan University, Izrael)
You are not logged in | log in
